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XDLM-C4 X射線測厚儀

FISCHERSCOPE® XDLM®-C4 是一款基于Windows™ 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。

微聚焦X-射線管以及電機(jī)帶動的有4個不同尺寸視準(zhǔn)器組成的視準(zhǔn)器組使得XDLM®-C4成為測量大批量生產(chǎn)部件的理想測量儀器，例如螺絲，螺母和螺栓。可選擇的鈷接收器有效地解決銅上鍍鎳的測量應(yīng)用問題

XDLM®-C4的特色是的距離修正測量方法。DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強(qiáng)度的差別，簡便了測量復(fù)雜幾何外形的測試工件和在不同測量距離上的測量。

與WinFTM® V.6軟件及校樣標(biāo)準(zhǔn)塊Gold Assay結(jié)合，XDLM®-C4作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分， 上乘地適用于快速，非破壞性和**的測量珠寶及貴金屬中金的成分。

HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的**處理和使用了*新的軟件和硬件技術(shù)，FISCHER公司的X射線儀器具有其的特點(diǎn)。

有一無二的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測量精度的情況下測量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時可以對包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析（使用WinFTM® V.6軟件）

典型的應(yīng)用范圍如下：

單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。

三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。

雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

*多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。

分析多達(dá)4種（或24種－使用V.6軟件）元素。

分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-C4 儀器系列

目前類型

FISCHERSCOPE® X-RAY    手動的XY工作臺和電機(jī)驅(qū)動的X-射線測量頭Z-軸運(yùn)行

XDLM®-C4 XymZ           

FISCHERSCOPE® X-RAY    可編程的XY工作臺和可編程的

XDLM®-C4 XYZp          X射線測量頭Z-軸運(yùn)行

                          XY工作臺定位精度要求不高時，是非常適合的

FISCHERSCOPE® X-RAY   可編程的高精度XY工作臺和可編程X-射線測量頭Z-軸運(yùn)行

XDLM®-C4 PCB           尤其是專為測量小部件或側(cè)試點(diǎn)而設(shè)計，例如線路板上的導(dǎo)電片或?qū)щ妿?/span>

尺寸

測量頭                    寬 = 570 mm; 深 = 740 mm; 高 = 650 mm

測量箱體                  寬 = 460 mm; 深 = 500 mm; 高 = 300 mm