XDVM-P X-RAY測厚儀
FISCHERSCOPE® XDVM®-P是一款基于Windows™ 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。
它杰出的特性包括：2組可切換的各帶4個視準器的視準器組，大的開槽的測量箱體確保工件放置簡便，**的可編程的直流電機驅動的X-Y工作臺快速和無振動移動以及原始射線從上往下設計為在Z-軸可移動的X-射線發(fā)生和接受裝置。
這個特性使得該系統(tǒng)非常適合于測量大批量生產的部件，例如螺絲，連接器插針或大的線路板。按動按鈕就可根據(jù)預設的測試點定位進行自動測量，并可自動的進行評估報告輸出。
HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經驗。通過對所有相關過程包括X射線熒光測量法的**處理和使用了*新的軟件和硬件技術，FISCHER公司的X射線儀器具有其的特點。
有一無二的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標準片校準并保證一定測量精度的情況下測量復雜的鍍層系統(tǒng)，同時可以對包含多達24種元素的材料進行分析（使用WinFTM® V.6軟件）
典型的應用范圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
*多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。
| | FISCHERSCOPE® |
| 測量方向 | 從上往下 |
| X-射線管型號 | MW |
| 可調節(jié)的高壓 | |
| 開槽的測量箱體 | |
| 基本Ni濾波器 | |
| 接收器(Co) | |
| 數(shù)準器數(shù)目 | 4 |
| z-軸 | 可編程的 |
| 測量臺類型 | 可編程的XY工作臺 |
| 測試點的放大倍率 | 20 - 180 x |
| DCM方法 | |
| WinFTM® 版本 | V.3 標準 |
| 操作系統(tǒng)： | |
FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-P instrument series
FISCHERSCOPE® X-RAY Version with programmable XY stage and programmable X-Ray
XDVM®-P head Z-axis
XY stage travel : 250 mm x 250 mm
Dimensions
Measurement head width = 660 mm; depth = 950 mm; height = 720 mm
Measurement chamber width = 580 mm; depth = 560 mm; height = 145 mm
涂裝 相關儀器：涂層測厚儀，漆膜硬度測試儀，電解膜厚儀，黏度計/粘度計，X射線測厚儀，附著力測試儀，微型光澤儀，分光色差儀，霧影儀，反射率測定儀，光譜儀，涂膜干燥時間記錄儀，標準光源箱
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