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為了仿真不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測試環(huán)境，縮短測試時(shí)間，降低測試費(fèi)用，但是必須要注意可能對(duì)材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。

◆ 一機(jī)可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存功能

◆ 等均溫速率可設(shè)定范圍5℃～30℃(40℃)

◆ 滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求

◆ 采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行

◆ 除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時(shí)完成

◆ 通信配置RS232接口和USB儲(chǔ)存曲線下載功能

◆ 機(jī)臺(tái)多處報(bào)警監(jiān)測，配置無線遠(yuǎn)程報(bào)警功能

1.GB/T 10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

2.GB/T 11158-1989 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3.GB/T 10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

4.GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

5.GB/T 2423.2-2001試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法 

6.GB/T 2423.22-2002試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法

7.GJB150.3-1986高溫試驗(yàn)

8.GJB150.4-1986低溫試驗(yàn)

滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求

■ 斜線部分為加裝化學(xué)除濕系統(tǒng)曲線。
■ 橫線部分為60Hz，其余為50Hz之曲線。

■ 50Hz可控制能力范圍
■ 60Hz比50Hz多出來的能力范圍
■ 加裝除濕輪的能力范圍

Low Temperature     #3=-40℃-125℃      #4=-55℃-125℃  Lnner dimension:(W*D*H)          A=40*35*30cm         B=50*40*40cm         C=60*50*50cm         D=70*60*60cm         E=USTOMER SIZE 等均式快速溫度變?cè)囼?yàn)機(jī)系列 BAOYT test equipment co.,ltd

注：溫濕度分布均度測試方法依照內(nèi)箱離各邊1/10距離有效空間量測(GB5170.18-57)