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北京航天偉創(chuàng)設(shè)備科技有限公司

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光學(xué)膠介電常數(shù)測試儀

產(chǎn)品二維碼
參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號:
  • 品牌:
  • 產(chǎn)品類別:介電常數(shù)測定儀
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2025-03-05 13:28:47
  • 瀏覽次數(shù):8

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其他

  • 經(jīng)營模式:其他
  • 商鋪產(chǎn)品:339條
  • 所在地區(qū):
  • 注冊時間:2025-03-04
  • 最近登錄:2025-03-04
  • 聯(lián)系人:杜川
產(chǎn)品簡介

簡要描述:光學(xué)膠介電常數(shù)測試儀由測試裝置(夾具)、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件、及LKI-1型電感器組成。

詳情介紹

LDJD-C 光學(xué)膠介電常數(shù)測試儀

一、概述

LDJD-C 光學(xué)膠介電常數(shù)測試儀由S916測試裝置(夾具)、AS2853A型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的*解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。使用QBG-3E或AS2853A數(shù)字Q表具有自動計(jì)算介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗(tanδ)。

二、適用標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法》

GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

 ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法

 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測試方法

 

三、主要參數(shù)

功能名稱:

AS2853A

信號源范圍DDS數(shù)字合成信號

100KHZ-160MHz

 

信號源頻率覆蓋比

11000:1

信號源頻率精度 6位有效數(shù)

3×10-5 ±1個字  

采樣精度

11BIT

Q測量范圍

1-1000自動/手動量程

Q分辨率

4位有效數(shù),分辨率0.1

Q測量工作誤差

<5%

電感測量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH

1nH-140mH  分辨率0.1nH

電感測量誤差

<3%

調(diào)諧電容

主電容17-240pF

電容直接測量范圍

1pF25nF

調(diào)諧電容誤差

分辨率

±1 pF<1%

0.1pF

諧振點(diǎn)搜索

自動掃描

Q合格預(yù)置范圍

5-1000聲光提示

Q量程切換

自動/手動

LCD顯示參數(shù)

F,LC,QLt,Ct波段等

自身殘余電感和測試引線電感的
自動扣除功能(*)

大電容值直接測量顯示功能(*)

測量值可達(dá)25nF

介質(zhì)損耗系數(shù)

精度 萬分之一

介電常數(shù)

精度 千分之一

材料測試厚度

0.1mm-10mm

四、S916(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置:

固體:材料測量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選;厚度可調(diào) ≥ 15mm (二選一) 

液體:測量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm(選配)

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