鄭州澤銘科技有限公司
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簡(jiǎn)要描述：JW-04比表面儀，比表面積是單位質(zhì)量物質(zhì)的總表面積（㎡／g），是超細(xì)粉體材料特別是納米材料Z重要的物性之一。測(cè)定比表面的方法很多，其中氮吸附法是Z常用、的方法，已列入標(biāo)準(zhǔn)和我國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。
JW-04比表面儀技術(shù)參數(shù)及規(guī)格：
測(cè)試氣體：高純氦、氮混氣
樣品數(shù)量：1個(gè)標(biāo)樣，3個(gè)被測(cè)樣
測(cè)試速度：平均每個(gè)樣品5分鐘
測(cè)試范圍：≥0.01M2/g , 無(wú)規(guī)定上限
測(cè)試精度：≤±2%
運(yùn)行方式：自動(dòng)
主機(jī)尺寸：50×35×59（㎝）
主機(jī)重量：33㎏
JW-04比表面儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
設(shè)計(jì)精巧，使用方便；
快速測(cè)定，效率*高；
的恒流電路和穩(wěn)流系統(tǒng)保證了測(cè)試精度；
氣動(dòng)無(wú)噪音升降系統(tǒng)；
軟件功能齊全、操作簡(jiǎn)便，測(cè)試過程實(shí)時(shí)顯示，測(cè)試結(jié)果同步展現(xiàn)；
的便攜式樣品真空預(yù)處理機(jī)；
價(jià)格便宜；
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