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北京宜能科創(chuàng)技術(shù)有限公司

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北京宜能科創(chuàng)技術(shù)有限公司
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PS50三維表面形貌儀

產(chǎn)品二維碼
參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 產(chǎn)品型號:
  • 品牌:
  • 產(chǎn)品類別:粗糙度儀
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2025-04-06 19:18:47
  • 瀏覽次數(shù):5

北京宜能科創(chuàng)技術(shù)有限公司

其他

  • 經(jīng)營模式:其他
  • 商鋪產(chǎn)品:55條
  • 所在地區(qū):
  • 注冊時間:2025-04-06
  • 最近登錄:2025-04-06
  • 聯(lián)系人:
產(chǎn)品簡介

PS50三維表面形貌采用白光共聚焦技術(shù),可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體材料、太陽能、摩擦磨損、汽車、腐蝕、砂紙、巖石等行業(yè),可用于取代傳統(tǒng)的探針式表面形貌儀與干干涉式表面形貌儀。

詳情介紹

PS50型三維表面形貌儀應(yīng)用行業(yè):是美國NANOVEA公司推出的一款科研版的三維表面形貌測量設(shè)備,采用的白光共聚焦技術(shù),可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點,廣泛應(yīng)用于MEMS、半導(dǎo)體材料、太陽能、摩擦磨損、汽車、腐蝕、砂紙、巖石等行業(yè)。該儀器性價比高,可用于取代傳統(tǒng)的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀。

產(chǎn)品特點采用白光共聚焦色差技術(shù)

PS50三維表面形貌儀(圖1)


1、利用白光點光源,光線經(jīng)過透鏡后產(chǎn)生色差,不同波長的光分開后入射到被測樣品上。

2、位于白光光源的對稱位置上的超靈敏探測器系統(tǒng)用來接收經(jīng)被測點漫反射后的光。

3、根據(jù)準共聚焦原理,探測器系統(tǒng)只能接收到被測物體上單點反射回來的特定波長的光,從而得到這個點距離透鏡的垂直距離。

4、再通過點掃描的方式可得到一條線上的坐標,即X-Z坐標。

5、最后以S路徑獲得物體每個點的三維X-Y-Z坐標。

6、最后將采集的三維坐標數(shù)據(jù)交給專業(yè)的三維處理軟件進行各種表面參數(shù)的分析。 

7、軟件能夠自動獲取用戶關(guān)心的表面形貌參數(shù)。

產(chǎn)品特性:

1、采用白光共聚焦色差技術(shù),可獲得納米級的分辨率。

2、測量具有非破壞性,測量速度快,精確度高。

3、測量范圍廣,可測透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋 光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、     光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)。

4、尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面。

5、不受環(huán)境光的影響 。

6、測量簡單,樣品無需特殊處理。

7、Z方向測量范圍大:為27mm。

主要功能:

1、可創(chuàng)建任意區(qū)域的2D曲線圖或2D等高線分布圖; 

2、可創(chuàng)建任意區(qū)域的3D圖像;

3、自動得到樣品的一維線粗糙度參數(shù)(Ra,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Rq,Rsk,Rku);

4、自動得到樣品的二維面粗糙度(Sa,Sp,Sq,Sv,Sz,Ssk,Sku);

5、可得到樣品的平整度,波紋度等參數(shù);

6、自動校準功能,例如粗糙度,一般情況下對于曲面樣品,首先展平,然后自動給出粗糙度的參數(shù);

7、具有尺寸測量:長度,寬度,角度,深度,臺階高度;

8、可測孔洞磨損面積,磨損體積等參數(shù);

9、具有功率譜密度測試功能;

10、具有分形統(tǒng)計功能;

主要技術(shù)參數(shù):

1、XY全自動掃描范圍:50×50(mm)。

2、XY掃描步長:0.1μm。

3、掃描速度:20mm/s 。

4、Z方向測量范圍:27mm。

5、Z方向測量分辨率:2nm 。

產(chǎn)品應(yīng)用:

MEMS、半導(dǎo)體材料、太陽能、摩擦磨損、汽車、腐蝕、砂紙、巖石等。

PS50三維表面形貌儀(圖2)
PS50三維表面形貌儀(圖3)







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