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主要標(biāo)準(zhǔn)： 

◆IEC  61967-1:  Integrated  circuits  -  Measurement  of  electromagnetic  emissions  -  Part  1:  General  conditions  and de?nitions

◆IEC  61967-6: Integrated  circuits  -  Measurement  of  electromagnetic  emissions,  150  kHz  to  1  GHz  -  Part  6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method

測(cè)試介紹： 

磁場(chǎng)探頭法使用微型三片式結(jié)構(gòu)磁探針測(cè)量被測(cè)集成電路的電源引腳和I/O引腳上的射頻電流。該探頭以受控方式測(cè)量 標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試板上電源或I/O帶導(dǎo)體上方高度處的磁場(chǎng)。使用相應(yīng)公式，可根據(jù)測(cè)量磁場(chǎng)計(jì)算射頻電流。由于磁場(chǎng)探頭放 置位置的準(zhǔn)確，此方法有高度的重復(fù)性。此外，該方法的頻率范圍可進(jìn)行擴(kuò)展，在不影響精度的情況下，可以獲得更高的 頻率。測(cè)算電源或I/O帶導(dǎo)體上的射頻電流是表征和比較集成電路的一種簡(jiǎn)便方法。