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主要標(biāo)準：  

◆IEC 62132-1:Integrated circuits  -  Measurement  of  electromagnetic  immunity  -  Part  1:  General  conditions  and de?nitions

◆IEC 62132-4:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method

測試介紹：  

IEC62132-4規(guī)定了采用直接射頻功率注入(DPI)法測量IC的抗干擾性能，射頻信號直接注入在芯片單只引腳或一組引 腳上，耦合電容同時起到了隔直的作用，避免了直流電壓直接加在功放的輸出端。

測試配置布置圖: 

    主要測試設(shè)備：傳導(dǎo)抗擾度測試系統(tǒng)、功率注入探頭等.

測試環(huán)境：屏蔽室