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為什么要測試光纜系統(tǒng)? |
為什么要測試光纜系統(tǒng)? 安裝的光纜是否達(dá)到當(dāng)前和未來的傳輸性能要求! 主要的測試項(xiàng)目 光功率損耗或衰減 檢驗(yàn)光纖通斷狀態(tài) 測量鏈路的損耗值 多模光纜只需在一個波長上測試 單模光纜必須在兩個波長上測試 TIA/EIA 568A 規(guī)定的測試限 要求的鏈路衰減值是不固定的(比如隨長度而變化) 鏈路衰減必須根據(jù)每個具體的光纜鏈路計算 一般由設(shè)計工程師計算并在設(shè)計圖紙中給出 依據(jù)此給定的值對光纜進(jìn)行測試 鏈路設(shè)計值 = 光纜衰減 + 連接器衰減 + 熔接點(diǎn)衰減 給出鏈路器件最差單位值(統(tǒng)計值/經(jīng)驗(yàn)值) 光纜鏈路故障的原因? 光纜熔接不良(有氣泡) 光纜斷裂或受到擠壓(裂傷或晶體變形) 接頭處拋光不良(漫、散射損耗) 接頭處接觸不良(反射、泄漏損耗) 光纜過長(過量衰減) 核心直徑不匹配(衰減/雙向不等量衰減) 填充物直徑不匹配(錯位、泄漏衰減) 彎曲過度(彎曲半徑過小,透射衰減) 模式錯用(SM/MM混用,窗口衰減/雙向不等量衰減) 接頭不匹配、端面臟污、(尾纖/接頭端面)受潮 接頭安裝精度公差超標(biāo)及穩(wěn)定性差(松動/衰減參數(shù)漂移) 光纖端接基本類別: 非環(huán)氧樹脂型/非打磨型 非環(huán)氧樹脂型/打磨型 環(huán)氧樹脂型/打磨型 尾纖拼接 |