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鍍層測厚儀的產(chǎn)品測量方法介紹

2025年01月19日 10:11:07      來源:廣州鴻熙電子科技有限公司 >> 進入該公司展臺      閱讀量:10

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鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達到質(zhì)量標準的必要手段。對鍍層厚度有了明確要求。
隨著技術(shù)的日益進步,特別是近年來引入微機技術(shù)后,采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價低,是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。
鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
測量方法
鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
原理:
1、原理:X射線照射樣品,經(jīng)過鍍層界面,射線返回的信號發(fā)生突變,根據(jù)理論上同材質(zhì)無限厚樣品反饋回強度的關(guān)系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難(信號分不開)。
2、XRF鍍層測厚儀:
俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。
功能:精密測量金屬電鍍層的厚度。
應(yīng)用范圍:測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。 
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