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EMC測(cè)試分為兩個(gè)主要類別:
排放測(cè)試:確保電力線,通信線和系統(tǒng)本身發(fā)出的能量保持在可接受的限制之內(nèi)。設(shè)備通常會(huì)失敗,因?yàn)樗哪承┎糠謺?huì)產(chǎn)生過多的輻射能量。
免疫測(cè)試:驗(yàn)證正在測(cè)試的設(shè)備(EUT)即使受到外部干擾也能保持功能。失敗的常見原因是,一個(gè)或多個(gè)EUT的組件對(duì)應(yīng)用的電場(chǎng)或磁場(chǎng)過于敏感。
從產(chǎn)品開發(fā)的早期階段來解決EMC的遵守非常重要,而仍然有時(shí)間解決任何問題。一旦設(shè)計(jì)和構(gòu)建系統(tǒng),就很難進(jìn)行必要的修改。
不幸的是,當(dāng)在正式的EMC測(cè)試活動(dòng)中出現(xiàn)問題時(shí),很難甚至不可能知道問題的確切位置。例如,說我們正在EMC室中測(cè)試系統(tǒng)。每個(gè)EMC問題都有三個(gè)部分:
受害者:受排放影響的組件。
耦合路徑:從源到受害者的路線。
EMC腔室測(cè)量了遠(yuǎn)處的排放,因此這里的受害者將是測(cè)量天線,而路徑將是腔室內(nèi)的自由空氣。但是,我們?nèi)匀徊恢琅欧诺膩碓础?/p>
另外,說計(jì)算機(jī)的屏幕在輻射免疫測(cè)試中開始眨眼。該問題的效果在屏幕上可見,但是問題的來源可能是屏蔽電纜有故障的屏蔽,主處理器對(duì)測(cè)試頻率的敏感性或其他內(nèi)容。
識(shí)別電磁干擾(EMI)的原因通常需要特殊工具。實(shí)際上,如果該工具是近場(chǎng)探測(cè)器,則只有一種工具可以消除數(shù)小時(shí)的故障排除。在EMC測(cè)試期間,我們可以使用近場(chǎng)探針來識(shí)別來源和受害者。正如我們?cè)谖恼潞竺嬗懻摰哪菢樱鼈円部梢杂脕眚?yàn)證EMI屏蔽的有效性。
什么是近場(chǎng)探測(cè)器?
近場(chǎng)探針(圖1)是診斷工具,用于測(cè)量與其來源緊鄰的電磁場(chǎng)。它們使其對(duì)電場(chǎng)或磁性(H)磁場(chǎng)敏感。相比之下,遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量不能將電子場(chǎng)地與H場(chǎng)分開,因此很難確定干擾的來源。
近場(chǎng)探針的物理工作是基于麥克斯韋的方程式。將電子場(chǎng)探針放入時(shí)變電場(chǎng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生可測(cè)量的電壓。同樣,H場(chǎng)探針在存在時(shí)間變化的磁場(chǎng)的情況下會(huì)產(chǎn)生可測(cè)量的電流。
近場(chǎng)探針,無論是電子場(chǎng)還是h場(chǎng),通常都與頻譜分析儀一起觀察頻率分布。但是,如果要觀察時(shí)間變化,也可以使用示波器使用近場(chǎng)探針。
為什么在EMC測(cè)試中使用近場(chǎng)探針?
如上所述,近場(chǎng)探針可以幫助我們?cè)贓MC故障排除期間進(jìn)行以下操作:
確定排放源。
查找敏感組件。
驗(yàn)證屏蔽的有效性。
確定排放源
讓我們回到個(gè)示例中,在那里我們?cè)贓MC室內(nèi)測(cè)試系統(tǒng)并遇到過多的排放。要進(jìn)行故障排除,我們需要知道哪個(gè)組件或結(jié)構(gòu)是問題的根源。近場(chǎng)探測(cè)如何幫助我們找到它?
在近場(chǎng)中,我們將擁有一個(gè)主要的電場(chǎng)或磁場(chǎng)。因此,我們將需要電子場(chǎng)和H場(chǎng)探針來找到排放源。為了測(cè)量發(fā)射水平,我們將探針放置在電路附近。知道排放量高的頻率或頻率,我們可以測(cè)量EUT周圍的磁場(chǎng)或電場(chǎng)。
查找敏感組件
在免疫測(cè)試中,我們應(yīng)用強(qiáng)電場(chǎng)或磁場(chǎng),并觀察系統(tǒng)是否按預(yù)期工作。當(dāng)系統(tǒng)失敗測(cè)試時(shí),這是因?yàn)榻M件或組件組對(duì)應(yīng)用的字段及其頻率敏感。假設(shè)我們知道可能干擾EUT的頻帶,我們可以將信號(hào)發(fā)生器連接到探針并生成一個(gè)在EMC實(shí)驗(yàn)室中觀察到的行為的場(chǎng)。
驗(yàn)證屏蔽有效性
EMI屏蔽可吸收或反映電磁能。圖2顯示了EMC膠帶的一個(gè)示例,EMI屏蔽形式。
EMC膠帶用于屏蔽電子設(shè)備。