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COULOSCOPE CMS2 STEP多層鎳電位差測(cè)厚儀

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  • 更新時(shí)間:2023-01-18 14:52:05
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上海鼎徵儀器儀表設(shè)備有限公司代理銷售COULOSCOPECMS2STEP多層鎳電位差測(cè)厚儀COULOSCOPECMS2STEP多層鎳電位差測(cè)厚儀用于質(zhì)量控制的庫(kù)侖法鍍層厚度測(cè)量在一定的厚度以上,X射線熒光對(duì)鍍層的無(wú)損測(cè)量達(dá)到了限,這就是COULOSCOPE CMS2發(fā)揮作用的地方

詳情介紹

上海鼎徵儀器儀表設(shè)備有限公司代理銷售

COULOSCOPE CMS2 STEP多層鎳電位差測(cè)厚儀

COULOSCOPE CMS2 STEP多層鎳電位差測(cè)厚儀

用于質(zhì)量控制的庫(kù)侖法鍍層厚度測(cè)量
在一定的厚度以上,X射線熒光對(duì)鍍層的無(wú)損測(cè)量達(dá)到了限,這就是COULOSCOPE CMS2發(fā)揮作用的地方。它用庫(kù)侖法測(cè)量多種金屬鍍層的厚度,這是做相當(dāng)簡(jiǎn)單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準(zhǔn)確地測(cè)量許多常見的單層和多層鍍層。


庫(kù)侖法的成本效益高,可精確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測(cè)量方法。它為您提供了靈活性,因?yàn)樗梢杂糜趶V泛的鍍層組合。您可以使用庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度,特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中,以及用于監(jiān)測(cè)印刷電路板上的殘余純錫厚度。
STEP測(cè)試:庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳的電化學(xué)電位測(cè)量
如果你想在使用庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度的同時(shí)測(cè)量電化學(xué)電勢(shì),那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測(cè)試方法可以同時(shí)測(cè)量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度,非常適合測(cè)定這些鍍層的腐蝕行為。
特性
·高精度測(cè)量多層金屬鍍層的厚度(庫(kù)侖法)
·根據(jù)DIN EN ISO 2177進(jìn)行測(cè)量
·通過彩色顯示屏和圖形支持的用戶指南直觀地操作
·可輕松選擇電解速度(微米/分鐘)和電解面積()
·針對(duì)不同鍍層系統(tǒng)(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預(yù)先設(shè)定了近100種測(cè)量應(yīng)用
·測(cè)量單元上電壓曲線的圖形顯示
·圖形和統(tǒng)計(jì)評(píng)估
·帶支撐架的部分自動(dòng)化測(cè)量,適用于各種樣品尺寸
·全面的配件組合,以適應(yīng)特定的要求
COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能
·同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和電位差
·根據(jù)ASTM B764 - 04和DIN EN 16866進(jìn)行電位差測(cè)試
·銀參比電極測(cè)量前的準(zhǔn)備工作(產(chǎn)生必要的AgCl層)
·電解電流可調(diào)整
·可直接在測(cè)厚儀顯示器上評(píng)估電位曲線
應(yīng)用
·電鍍生產(chǎn)過程中的監(jiān)控和成品的進(jìn)廠檢驗(yàn)
·可以精確測(cè)量多種金屬鍍層的厚度–50µm(根據(jù)材料不同)
·金屬和非金屬基材上單層和多層鍍層厚度的測(cè)量
·多鍍層體系:例如在鐵或塑料基體(ABS)上鍍鉻/鎳/銅等多層鍍層
·雙鍍層體系:例如銀或銅上面鍍錫或鍍鎳
·單鍍層如鐵上鍍鋅
COULOSCOPE CMS2 STEP的額外應(yīng)用
·STEP測(cè)試:在銅、鐵、鋁或塑料襯底(ABS)上的多層鎳層系統(tǒng)


庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

作為測(cè)量鍍層厚度簡(jiǎn)單的方法之一,庫(kù)侖法可以用于各種鍍層組合。 尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu), 當(dāng)允許破壞性測(cè)量時(shí),它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。
測(cè)量原理
這個(gè)系列儀器根據(jù)DIN EN ISO 2177標(biāo)準(zhǔn)的庫(kù)侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層,通過在控制電流條件下電解腐蝕——實(shí)際上就是電鍍的反過程。所載入的電流與要?jiǎng)冸x的鍍層厚度是成正比的,假如電流和剝離面積保持不變,鍍層厚度與電解時(shí)間就是成正比的關(guān)系。

測(cè)量槽——可比作微型電解缸——被用來(lái)剝離鍍層。 測(cè)量面積由裝在測(cè)量槽上的墊圈尺寸來(lái)決定。對(duì)不同的金屬采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由COULSCOPE儀器的電子部分控制, 用一個(gè)泵攪拌電解液來(lái)使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕,保證電解液佳利用。 根據(jù)測(cè)量區(qū)域的大小,各種直徑的墊圈 可供選擇。
COULOSCOPE CMS2
CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結(jié)構(gòu); 它的工作原理是根據(jù)陽(yáng)極溶解的庫(kù)侖法 (DIN EN ISO 2177)。 簡(jiǎn)單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法。設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個(gè)預(yù)留的應(yīng)用程式(例如,鐵上鍍鋅,黃銅上鍍鎳), 以及各種電解速度(例如1, 2, 5, and 10 μm/min)。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。

COULOSCOPE CMS2的特征
-大尺寸高分辨率的彩色顯示器
-簡(jiǎn)單的操作和圖示的用戶指導(dǎo)
-使用V18支架實(shí)現(xiàn)半自動(dòng)化測(cè)量
-電解速度和測(cè)量面積的簡(jiǎn)單選擇( - 50 μm/min) 和( - mm ?)
-電壓曲線圖形顯示
-圖形和統(tǒng)計(jì)分析
-多語(yǔ)言和計(jì)量單位可供選擇


COULOSCOPE CMS2
STEP CMS2 STEP 的特征是STEP測(cè)試功能(同時(shí)測(cè)定厚度和電位差)。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試 (根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022)。鍍層厚度根據(jù)庫(kù)侖法得出, 而電位差則由一個(gè)鍍有AgCl的銀電極得到。

COULOSCOPE CMS2 STEP的特殊功能
-同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和電位差
-銀參比電極的簡(jiǎn)單準(zhǔn)備
-可調(diào)節(jié)的電解電流
應(yīng)用
強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)。

很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可以用CMS2簡(jiǎn)單快速地測(cè)量。這個(gè)方法為任何金屬鍍層提供了精確的測(cè)量。在厚度范圍 - 50 μm內(nèi), 很多材料不需要預(yù)設(shè)定;基材組成和幾何形狀對(duì)于測(cè)量都是無(wú)關(guān)緊要的。

常見的應(yīng)用之一就是測(cè)量線路板上剩余的純錫,以確??珊感?。多鍍層例如 Cr/ Ni/Cu在鐵或者塑料(ABS)基材上,經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品,也可以用這個(gè)方法進(jìn)行測(cè)量。

STEP Test是在允許腐蝕的情況下用來(lái)同時(shí)測(cè)量電位差和多層鎳的鍍層厚度,該方法是這個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)。

多層鎳鍍層的品質(zhì)控制需要能在電鍍完成后立刻檢查厚度和電位差的儀器。 COULOSCOPE CMS2 STEP 就是為這個(gè)目的而設(shè)計(jì)的,它操作簡(jiǎn)單,參比電極使用起來(lái)也不復(fù)雜,非常適合電鍍工廠苛刻環(huán)境下的這種應(yīng)用。

特別是汽車工業(yè)中,電鍍鎳部件在防腐蝕方面要滿足很高的要求。單一鎳層無(wú)法滿足該要求。因此,目前正在開發(fā)非常復(fù)雜的鍍層系統(tǒng),其中包含兩層、三層甚至四層鍍鎳層,還有鉻或銅鍍層。

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