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COULOSCOPE CMS2庫侖測厚儀
COULOSCOPE CMS2庫侖測厚儀
用于質(zhì)量控制的庫侖法鍍層厚度測量
在一定的厚度以上,X射線熒光對鍍層的無損測量達到了限,這就是COULOSCOPE CMS2發(fā)揮作用的地方。它用庫侖法測量多種金屬鍍層的厚度,這是做相當簡單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準確地測量許多常見的單層和多層鍍層。
庫侖法的成本效益高,可精確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了靈活性,因為它可以用于廣泛的鍍層組合。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度,特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中,以及用于監(jiān)測印刷電路板上的殘余純錫厚度。
STEP測試:庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳的電化學電位測量
如果你想在使用庫侖法測量鍍層厚度的同時測量電化學電勢,那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測試方法可以同時測量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度,非常適合測定這些鍍層的腐蝕行為。
特性
·高精度測量多層金屬鍍層的厚度(庫侖法)
·根據(jù)DIN EN ISO 2177進行測量
·通過彩色顯示屏和圖形支持的用戶指南直觀地操作
·可輕松選擇電解速度(微米/分鐘)和電解面積()
·針對不同鍍層系統(tǒng)(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預(yù)先設(shè)定了近100種測量應(yīng)用
·測量單元上電壓曲線的圖形顯示
·圖形和統(tǒng)計評估
·帶支撐架的部分自動化測量,適用于各種樣品尺寸
·全面的配件組合,以適應(yīng)特定的要求
COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能
·同時測量鍍層厚度和電位差
·根據(jù)ASTM B764 - 04和DIN EN 16866進行電位差測試
·銀參比電極測量前的準備工作(產(chǎn)生必要的AgCl層)
·電解電流可調(diào)整
·可直接在測厚儀顯示器上評估電位曲線
應(yīng)用
·電鍍生產(chǎn)過程中的監(jiān)控和成品的進廠檢驗
·可以精確測量多種金屬鍍層的厚度–50µm(根據(jù)材料不同)
·金屬和非金屬基材上單層和多層鍍層厚度的測量
·多鍍層體系:例如在鐵或塑料基體(ABS)上鍍鉻/鎳/銅等多層鍍層
·雙鍍層體系:例如銀或銅上面鍍錫或鍍鎳
·單鍍層如鐵上鍍鋅
COULOSCOPE CMS2 STEP的額外應(yīng)用
·STEP測試:在銅、鐵、鋁或塑料襯底(ABS)上的多層鎳層系統(tǒng)
庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。
作為測量鍍層厚度簡單的方法之一,庫侖法可以用于各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結(jié)構(gòu), 當允許破壞性測量時,它提供了一個比X射線更經(jīng)濟的替代方法。
測量原理
這個系列儀器根據(jù)DIN EN ISO 2177標準的庫侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層,通過在控制電流條件下電解腐蝕——實際上就是電鍍的反過程。所載入的電流與要剝離的鍍層厚度是成正比的,假如電流和剝離面積保持不變,鍍層厚度與電解時間就是成正比的關(guān)系。
測量槽——可比作微型電解缸——被用來剝離鍍層。 測量面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定。對不同的金屬采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由COULSCOPE儀器的電子部分控制, 用一個泵攪拌電解液來使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕,保證電解液佳利用。 根據(jù)測量區(qū)域的大小,各種直徑的墊圈 可供選擇。
COULOSCOPE CMS2
CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結(jié)構(gòu); 它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法 (DIN EN ISO 2177)。 簡單的操作和菜單化的操作指導使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗理想的解決方法。設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個預(yù)留的應(yīng)用程式(例如,鐵上鍍鋅,黃銅上鍍鎳), 以及各種電解速度(例如1, 2, 5, and 10 μm/min)。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。
COULOSCOPE CMS2的特征
-大尺寸高分辨率的彩色顯示器
-簡單的操作和圖示的用戶指導
-使用V18支架實現(xiàn)半自動化測量
-電解速度和測量面積的簡單選擇( - 50 μm/min) 和( - mm ?)
-電壓曲線圖形顯示
-圖形和統(tǒng)計分析
-多語言和計量單位可供選擇
COULOSCOPE CMS2
STEP CMS2 STEP 的特征是STEP測試功能(同時測定厚度和電位差)。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試 (根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022)。鍍層厚度根據(jù)庫侖法得出, 而電位差則由一個鍍有AgCl的銀電極得到。
COULOSCOPE CMS2 STEP的特殊功能
-同時測量鍍層厚度和電位差
-銀參比電極的簡單準備
-可調(diào)節(jié)的電解電流
應(yīng)用
強大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗。
很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可以用CMS2簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層提供了精確的測量。在厚度范圍 - 50 μm內(nèi), 很多材料不需要預(yù)設(shè)定;基材組成和幾何形狀對于測量都是無關(guān)緊要的。
常見的應(yīng)用之一就是測量線路板上剩余的純錫,以確??珊感浴6噱儗永?Cr/ Ni/Cu在鐵或者塑料(ABS)基材上,經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品,也可以用這個方法進行測量。
STEP Test是在允許腐蝕的情況下用來同時測量電位差和多層鎳的鍍層厚度,該方法是這個應(yīng)用領(lǐng)域的標準。
多層鎳鍍層的品質(zhì)控制需要能在電鍍完成后立刻檢查厚度和電位差的儀器。 COULOSCOPE CMS2 STEP 就是為這個目的而設(shè)計的,它操作簡單,參比電極使用起來也不復(fù)雜,非常適合電鍍工廠苛刻環(huán)境下的這種應(yīng)用。
特別是汽車工業(yè)中,電鍍鎳部件在防腐蝕方面要滿足很高的要求。單一鎳層無法滿足該要求。因此,目前正在開發(fā)非常復(fù)雜的鍍層系統(tǒng),其中包含兩層、三層甚至四層鍍鎳層,還有鉻或銅鍍層。
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