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高頻介電常數(shù)測(cè)試設(shè)備

產(chǎn)品二維碼
參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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  • 產(chǎn)品類(lèi)別:電橋
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  • 更新時(shí)間:2025-03-05 13:22:15
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

簡(jiǎn)要描述:LDJD-B高頻介電常數(shù)測(cè)試設(shè)備可用于固體絕緣材料在高頻(10KHz-110MHz)下,高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù),高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等電性能的測(cè)試。

詳情介紹

LDJD-B高頻介電常數(shù)測(cè)試設(shè)備

LDJD-B高頻介電常數(shù)測(cè)試設(shè)備可用于固體絕緣材料在高頻(10KHz-110MHz)下,高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù),高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等電性能的測(cè)試。

高頻介電常數(shù)測(cè)試設(shè)備適用標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 1409-2006 《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法》(等效IEC 602501969

GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法》

ASTM D150 Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation

 

測(cè)試方法的選擇

測(cè)量電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的方法可分成兩種:零點(diǎn)指示法和諧振法。

1.零點(diǎn)指示法適用于頻率不超過(guò)50MHz時(shí)的測(cè)量。測(cè)量電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)可用替代法;也就是在接入試樣和不接試樣兩種狀態(tài)下,調(diào)節(jié)回路的一個(gè)臂使電橋平衡。通常回路采用西林電橋、變壓器電橋(也就是互感耦合比例臂電橋)和并聯(lián)T型網(wǎng)絡(luò)。變壓器電橋的優(yōu)點(diǎn):采用保護(hù)電極不需任何外加附件或過(guò)多操作,就可采用保護(hù)電極;它沒(méi)有其他網(wǎng)絡(luò)的缺點(diǎn)。

2.諧振法適用于10kHz?幾百MHz的頻率范圍內(nèi)的測(cè)量。該方法為替代法測(cè)量,常用的是變電抗法。但該方法不適合采用保護(hù)電極。

 

試驗(yàn)步驟

1. 試樣的制備

試樣應(yīng)從固體材料上截取,為了滿足要求,應(yīng)按相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)方法的要求來(lái)制備。


應(yīng)精確地測(cè)量厚度,使偏差在±0.2%0.005mm)以?xún)?nèi),測(cè)量點(diǎn)應(yīng)均勻地分布在試樣表面。必要時(shí),應(yīng)測(cè)其有效面積。

2.條件處理

條件處理應(yīng)按相關(guān)產(chǎn)品規(guī)范規(guī)定進(jìn)行。

3.測(cè)量

電氣測(cè)量按LDJD-B高頻介電常數(shù)測(cè)試設(shè)備說(shuō)明書(shū)進(jìn)行測(cè)量。

1MHz或更高頻率下,必須減小接線的電感對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。此時(shí),可采用同軸接線系統(tǒng)(見(jiàn)圖1所示),當(dāng)用變電抗法測(cè)量時(shí),應(yīng)提供一個(gè)固定微調(diào)電容器。

  

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