安捷特ACZET鍍層測厚儀CUBE-X系列產(chǎn)品介紹
測量方向:由上向下鍍層元素范圍:Al鋁~U鈾電壓:50kV(1.2mA)探測器(可選):正比計數(shù)器、Si-Pin、SDD硅漂移單準直器:0.3mm 0.5mm?鍍層層數(shù):多至5層測量點尺寸:圓形測量點,直徑約0.2毫米-0.8毫米測量時間:30秒-180秒樣品倉尺寸:375mm (長)x 350mm (寬) x 255 mm (高)儀器尺寸:605mm (長) x 405mm (寬) x 415 mm (高)同時定量測量8個元素。定性材料達24個元素。
產(chǎn)品圖片
產(chǎn)品規(guī)格
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