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在日常涂層測厚儀測厚過程中，有很多外在因素影響實際測量結果，導致最終測量結果存在誤差，本文從以下幾點可能對涂層測厚儀測量結果產生影響的因素進行分析：

1）磁性金屬基體：磁性基體磁性變化會在一定程度上影響測量 ，因此在測量時 ，當使用測性測厚法進行測量時 ，應該注意使得標準片的金屬磁性和表面粗糙度需要和試件類似 ；同樣的使用渦流測厚法來進行測量時 ，需要注意保證標準片的金屬電性質與試件類似 ；

2）基體金屬的厚度：需要特別說明的是每種儀器在測量的時候都有著一定的臨界厚度 ，一旦超過這個臨界值則測量結果就不再受基體金屬厚度的影響 ；

3）邊緣效應：測量時 ，由于試件的表面粗糙度、表面形狀等均會對最終測量結果產生影響 ，尤其是在靠近試件的邊緣部分由于測量儀器十分敏感 ，所以試件邊緣部分測得數(shù)據(jù)一般不可靠 ；

4）曲率：同樣的 ，試件的固有屬性尤其是曲率的大會對測量結果產生影響 ，而且隨著曲率半徑的降低 ，這種影響越大 ，所以彎曲度較大的試件測量結果亦不可靠。此外 ，對于容易變形的試件 ，測量結果也不可靠 ；

5）磁場的影響：如果測量期間 ，尤其是利用磁感應原理進行的涂層測量會由周圍的電氣設備所產生的強的磁場環(huán)境嚴重干擾測量結果 ，所以涂層測厚儀工作過程中需要避免周圍的強磁場環(huán)境 ；

6）表面附著物質：由于涂層測厚儀對于某些覆蓋在試件表面的附著物十分敏感 ，附著物會在很大程度上影響測量穩(wěn)定性和測量精度。所以使用時也需要注意保證試件表面的清潔等 ；

7）測頭壓力：測頭在試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù) ，在測量時應保證側頭平穩(wěn)放置于試件上 ，無外在其他力作用并且保持穩(wěn)定狀態(tài) ；

8）測頭取向：涂層測厚儀的測頭的放置位置對測量有影響，一般的 ，在測量中應使測頭與試樣表面保持垂直。

注：以上關于“涂層測厚儀的影響因素有哪些？”的內容由北京宜能科創(chuàng)技術有限公司編輯整理，轉載須注明來源