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   主要標(biāo)準(zhǔn):

         ◆IEC 62215-3: Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method

 測試介紹:

與受試器件（DUT）運行不同步的騷擾通過耦合網(wǎng)絡(luò)施加給IC引腳。不管瞬態(tài)是否在IC規(guī)定的運行電壓范圍之內(nèi)，本 方法都能夠得到傳導(dǎo)瞬態(tài)騷擾和其引起的IC性能降低之間的相互關(guān)系并對其進(jìn)行分類。

 測試配置布置圖:

         主要測試設(shè)備：非同步瞬態(tài)脈沖發(fā)生器、脈沖發(fā)射單元等